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Sylvac收購TESA（?？怂箍担┊a(chǎn)品線

Sylvac收購TESA（?？怂箍担┊a(chǎn)品線 Sylvac收購TESA（海克斯康）產(chǎn)品線 SYLVACSAhasjusttakentheimportantdecisiontoexpanditscurrentproductlinebylaunchingnon-contactopticalmeasuringsolutions.Thisnewstrategywillbeeffectiveveryquickly,sinceSylvacSAacquired2divisionsbelongingtotheTESA(HEXAGON)group:TESA-SCANandTESA-VISIO.Frommid-June,theseproductswillbedeveloped,manufacturedandassembledintheSYLVACCrissier(Lausanne)factoryandsoldundertheSYLVACbrandfromJuly. SYLVAC公司剛剛作出了拓展產(chǎn)品線的重大決策：推出非接觸式光學測量解決方案,。自從Sylvac公司從TESA（?？怂箍担┘瘓F收購2條產(chǎn)品線：TESA-SCAN和TESA-VISIO，這個決策有效且快速的補充了Sylvac公司的產(chǎn)品系列,。從六月中旬開始,，TESA-SCAN和TESA-VISIO的開發(fā)，制造和組裝將在SylvacCrissier（Lausanne）工廠,，并且將于七月開始從Sylvac銷售,。更多產(chǎn)品信息和資料，您可以從丹青公司獲取,。更多產(chǎn)品信息和資料,，您可以從丹青公司獲取。

Sylvac終身質(zhì)保

市場僅見,！基于對瑞士制造品質(zhì)的信心,，Sylvac對S_Dial Work和S_Dial Pro系列數(shù)顯表提供終身保修。這個令人難以置信的保證,！僅需要在購買后30天內(nèi),，在我們的網(wǎng)站上注冊您的儀器，您就可以享有了,。 Sylvac質(zhì)保產(chǎn)品系列： Sylvac S_Dial Work Sylvac S_Dial Pro

產(chǎn)品展示 / Products

新品推薦

TomoScope? XS Plus

1.采用整體設(shè)計 - 即使在高功率下也能實現(xiàn)小焦斑測量,，因此可以進行高分辨率的快速測量2.X射線源結(jié)合了封閉式和開放式微焦點X射線管的優(yōu)點3.停機時間和運營成本最小化4.與傳統(tǒng)三坐標測量機一樣，整個設(shè)備的維護周期僅為一年5.OnTheFly 斷層掃描和實時重建可實現(xiàn)快速測量6.符合 VDI 2617 標準的校準可獲得可靠且可追溯的測量結(jié)果,，可選配 DAkkS 證書技術(shù)規(guī)格設(shè)計類型帶計算機斷層掃描傳感器的 3D CNC 坐標測量機測量范圍最大工件尺寸 D = 289 mm / L = 456 mm（取決于工件的縱橫比）準確性允許的長度測量偏差高達 3.5 µm

ABERLINK Extol 比較儀 VS renishaw雷尼紹Equator?對比儀

Extol 現(xiàn)場三坐標與renishaw雷尼紹Equator?比對儀相比?，F(xiàn)場三坐標忠實于Aberlink的創(chuàng)新傳統(tǒng)，Extol是使用delta（數(shù)控加工機制）機制的三坐標測量機,。其專為堅固性和可靠性而打造的設(shè)計,，使得Extol三坐標測量機無論是在機床旁,、制造車間或是專項精測間都能夠全天候24小時運行。五個溫度傳感器同時監(jiān)控機器和環(huán)境溫度,，確保Extol 能夠在不受控制的環(huán)境中運行,，并報告測量結(jié)果，就好像它們是在20℃.下進行的一樣,。如果溫度變化速度不利于合理的計量實踐,，軟件即發(fā)出警報。 Extol 的自動工具補償校準與Aberlink 3D軟件的完美配合,，使其能夠被運用在制造環(huán)境中的的全自動進程的一部分,。Extol的人體工程學也是一個重要的設(shè)計因素。它不僅可以快速方便地進行單次性檢測,，而且可以進行批量檢測或便于自動裝載,。與前代Xtreme相比，Extol的測量體積更大,，總占地面積更小,，可以精確定位在需要測量的位置。 Extol三坐標測量機穩(wěn)健,、準確,、可靠，是自動驗證關(guān)鍵部件零件質(zhì)量的完美解決方案,。?全密封循環(huán)軸承,，在機床市場上得到驗證，顯著提高平滑度和抗灰塵能力,。 ?直接耦合的皮帶傳動系統(tǒng)消除了齒輪箱的需要和任何相關(guān)的齒隙問題,。 ?瑞士制造的直流電機和新的Deva運動控制系統(tǒng)提供了車間三坐標測量機檢查所需的可靠性。 ?光滑的皮帶傳動和線性軸承保障了長觸針在使用時,，不因振動而出現(xiàn)誤觸發(fā),。 ?自動刀具補償校正和自動化選項使得一體化能完全融入到全自動生成車間。 ?自動溫度補償允許Extol在不受控的環(huán)境中操作運行并確保報告的測量結(jié)果與在20°C下測量的結(jié)果一樣,。 ?Extol采用應(yīng)變儀技術(shù),，可支持TP200Bp它不顯示大范圍的特點，使其成為高精度應(yīng)用的理想選擇,。此外,，與TP20相比...

DANTSIN-TRIMOS V9數(shù)顯測高儀

TRIMOS V9數(shù)顯測高儀是高精度的測高儀，廣泛的應(yīng)用于計量室,、車間現(xiàn)場,。TRIMOS V9同V7一樣，盡管這都是一臺全新的測量儀器，但TRIMOS一直以來秉承著一個理念,，儀器使用簡單,，用戶短時間內(nèi)就可完全掌握。TRIMOS為V9測高儀配備的觸摸顯示器擁有技術(shù),，簡化了使用界面,。并且極少數(shù)的功能鍵卻滿足了所有測量要求,，從而為用戶提供了一個簡潔明了的操作界面,。從側(cè)面插入測頭這一方式，為TRIMOS帶來了非凡的影響,。其具有極強的靈活性,、堅固性、使用范圍可達到驚人的400mm的傳感器進行測量,。V9測高儀配備了革命性的技術(shù),，采用手動與電動一體操作手輪。用戶可以相互切換模式,。 ?測量范圍400~1100mm?特殊的精度等級?電子測力調(diào)節(jié)?手動或者自動位移操作?2D模式,、編程測量、數(shù)據(jù)統(tǒng)計?大量程附件?所有調(diào)整均無需工具?RS232和USB接口

Dantsin-Trimos LABC-NANO測長機

LABC-Nano測長機采用與德國Heidenhain 合作定的良好精度新型光柵測量系統(tǒng),，光柵尺長350毫米,。基座采用特種材料鑄造,，儀器穩(wěn)定可靠,，自動測量，速度快,、精度好,，可有減少除手動操作誤差。計量室用于檢定校準各種量檢具如：量塊,、光面（螺紋）環(huán)塞規(guī),、光滑錐度環(huán)塞規(guī)、螺紋錐度環(huán)塞規(guī),、軸承內(nèi)外滾道,、花鍵量規(guī)、卡規(guī),、校準桿,、尺類、表類,。LABC-Nano全自動測長機主要特點：●測量范圍 350 mm ●光柵尺長度 350 mm ●測量力 0 -12N 連續(xù)可調(diào)●頭座移動（X）CNC全自動●工作臺Y軸,、Z軸 CNC全自動測量找拐點，可有效減少手動操作誤差能工作臺承重60kg●Heidenhain高精度新型光柵測量系統(tǒng)●內(nèi)置溫補探頭，實時補償 LABC-NANO技術(shù)參數(shù)：（詳細參數(shù)請撥打400-711 6391 / 010-80470808）型號LABC-NANO350LABC-NANO600LABC-NANO1100測量范圍（光柵尺長度）350 mm350mm350 mm應(yīng)用范圍0-350 mm0-600 mm0-1100 mm應(yīng)用案例：

CETA 815型檢漏儀

CETATEST 815型是一款全自動差壓泄漏測試儀,，用于檢測生產(chǎn)過程周期時間內(nèi)的未密封部件,。將由泄漏而引起的試驗部分容積內(nèi)的壓力衰減與基準容積內(nèi)的壓力做比較（差壓法）。

案例中心 / Case

四合一測量技術(shù)的革新者

日期： 2024-05-22

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四合一測量技術(shù)的革新者

瑞士丹青Sensofar的四合一方法只需點擊一次,，系統(tǒng)即可切換到適合當前測量任務(wù)的最佳技術(shù),。在S neox傳感器頭中配置四種測量技術(shù)——共聚焦，干涉,，AI多焦面疊加,，這些都為系統(tǒng)的多功能性做出了重要貢獻，并有助于最大限度地減少數(shù)據(jù)采集中的噪點,。S neox是所有實驗室的理想之選,，適用范圍廣泛。

AI多焦面疊加

主動照明多焦面疊加是一種為了測量大粗糙表面形狀而開發(fā)的光學技術(shù),。這項技術(shù)基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測量領(lǐng)域的廣泛專業(yè)知識,，專門設(shè)計用于補充低放大率下的測量。通過使用主動照明,，即使在光學平滑的表面上也能獲得更可靠的測量數(shù)據(jù),，這一點已經(jīng)得到了改進。該技術(shù)的亮點包括高斜率表面（高達86°）,，最快的速度（3mm/s）和較大的垂直范圍測量,。

四合一測量技術(shù)的革新者

共聚焦

共聚焦輪廓儀的開發(fā)目的是，測量從光滑表面到非常粗糙表面的表面高度,。共聚焦輪廓提供最高的橫向分辨率,，最高可達0.15μm水平分辨率，空間采樣可減少到0.01μm,，這是關(guān)鍵尺寸測量的理想選擇,。高達NA（0.95）和放大倍率（150X）的物鏡可用于測量局部斜率超過70°的光滑表面。對于粗糙表面,，最高可允許86°,。獨家的共聚焦算法提供了納米尺度上的垂直重復(fù)性。

四合一測量技術(shù)的革新者

干涉

PSI 相移干涉法,，可以用于測量亞埃分辨率的高度光滑和連續(xù)表面的高度,。可以使用極低的放大率（2.5X）測量具有相同高度分辨率的大視場,。

CSI 相干掃描干涉法使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度,，達到1nm的高度分辨率。

四合一測量技術(shù)的革新者

薄膜

薄膜測量技術(shù)快速,、準確,、無損地測量光學透明層的厚度,，且不需要樣品制備。該系統(tǒng)獲取可見光范圍內(nèi)樣品的反射光譜,，并與軟件計算的模擬光譜進行比較,，對層厚進行修改，直到找到最佳擬合,?？梢栽诓坏揭幻腌姷臅r間內(nèi)測量出50nm到1.5μm的透明膜。測量光斑取決于物鏡放大率,，最小可低至0.5μm,，最高可達40μm。

四合一測量技術(shù)的革新者